LEEM-3 elektrostatiskā lauka kartēšanas aparāts
Inženiertehnoloģijā bieži ir jāzina elektrodu sistēmas elektriskā lauka sadalījums, lai pētītu elektronu vai lādētu daļiņu kustības likumu elektriskajā laukā. Piemēram, lai pētītu elektronu stara fokusēšanu un novirzi osciloskopa mēģenē, jāzina elektroda elektriskā lauka sadalījums osciloskopa mēģenē. Elektronu caurulē mums jāizpēta jaunu elektrodu ieviešanas ietekme uz elektronu kustību, kā arī jāzina elektriskā lauka sadalījums. Vispārīgi runājot, lai noskaidrotu elektriskā lauka sadalījumu, var izmantot analītisko metodi un simulācijas eksperimenta metodi. Bet tikai dažos vienkāršos gadījumos elektriskā lauka sadalījumu var iegūt ar analītisko metodi. Vispārējai vai sarežģītai elektrodu sistēmai to parasti nosaka ar simulācijas eksperimentu. Simulācijas eksperimenta metodes trūkums ir tāds, ka precizitāte nav augsta, bet vispārējam inženiertehniskajam projektam tā var atbilst prasībām.
Funkcijas
1. Iemācīties pētīt elektrostatiskos laukus, izmantojot simulācijas metodi.
2. Padziļiniet izpratni par elektrisko lauku stipruma un potenciāla jēdzieniem.
3. Kartējiet abu potenciālo potenciālo līniju un elektriskā lauka līnijas elektrodu modeļi koaksiālais kabelis un pāris paralēlu vadu.
Specifikācijas
| Apraksts | Specifikācijas |
| Enerģijas padeve | 0 ~ 15 VDC, nepārtraukti regulējams |
| Digitālais voltmetrs | diapazons no -19,99 V līdz 19,99 V, izšķirtspēja 0,01 V |
| Paralēli vadu elektrodi | Elektroda diametrs 20 mmAttālums starp elektrodiem 100 mm |
| Koaksiālie elektrodi | Centrālā elektroda diametrs 20 mmGredzena elektroda platums 10 mmAttālums starp elektrodiem 80 mm |
Detaļu saraksts
| Lieta | Daudzums |
| Galvenais elektriskais bloks | 1 |
| Vadoša stikla un kopējamā papīra balsts | 1 |
| Zondes un adatas balsts | 1 |
| Vadoša stikla plāksne | 2 |
| Savienojuma vads | 4 |
| Oglekļa papīrs | 1 soma |
| Pēc izvēles vadoša stikla plāksne:fokusējošais elektrods un nevienmērīgs lauka elektrods | katrs |
| Instrukcijas | 1 (elektroniskā versija) |
